Caracterización de partículas

Sean cuales sean sus necesidades específicas de caracterización de partículas, nosotros tenemos la tecnología que usted necesita. Nuestros instrumentos utilizan técnicas que incluyen el principio Coulter, la difracción láser, la dispersión de luz y la dispersión diferencial de intensidad polarizada (PIDS) para proporcionar los datos que necesita para sus aplicaciones específicas.

Analizador de tamaño de partículas LS 13 320 XR

Detección directa de partículas de 10 nm a 3500 µm
Destaca automáticamente los resultados de aceptación/fallo para un control de calidad más rápido
Los métodos preconfigurados aportan resultados con 3 clics o menos

Multisizer 4e

Intervalo general de tamaños: de 0,2 μm a 1600 μm
Apertura de 10 μm para la medición de micropartículas (0,2 μm)
Múltiples niveles de seguridad para el cumplimiento de 21 CFR Parte 11
Análisis complejo de muestras en un amplio intervalo de distribución de tamaños de partículas
Preparado para garantía de calidad (múltiples configuraciones de procedimientos normalizados de trabajo y paquete de validación V-check)